AI晶片檢測需求爆發！連META、GOOGLE也要捲入測試？｜ 思想實驗室 Video Podcast ep111：ft.聯發科技集成電路測試研究科學家 陳海力

摘要

訪談聯發科技陳海力，探討 AI 晶片架構複雜化帶來的測試挑戰與「靜默資料損毀」風險。內容涵蓋如何重新定義良率、人類工程師不可替代的判斷力，以及建立跨產業測試標準的重要性。

An interview with MediaTek's Harry Chen discussing the testing challenges and reliability risks of complex AI chips in the current era.

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半導體產業從業者、AI 晶片開發者與供應鏈管理人員。

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