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摘要
介紹蔡司如何透過先進裝置與技術，在晶片製造中找出微小缺陷並超越人類視界。觀眾可了解半導體製程中失效分析的關鍵挑戰與解決方案。
Zeiss reveals how to detect microscopic defects in chip manufacturing beyond human vision.
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提到的工具與公司
- ZEISS
- EUV
- SEM
- GAAFET
- ASML
- TSMC
適合誰看
半導體產業從業者、工程師或對晶片製造技術感興趣的人。
摘要依據
- 依據
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為什麼排在這裡
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