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摘要
專訪閎康科技謝詠芬博士，探討半導體先進製程中材料分析技術的重要性，涵蓋穿透式電子顯微鏡、故障分析、矽光子檢測等領域。影片說明如何透過高解析度裝置解決奈米級結構問題，並分享全球實驗室佈局與客戶機密保護策略。
An interview with Dr. Ying-Fen Hsieh of Matek Technology discussing material analysis technologies critical for advanced semiconductor processes, including TEM and silicon photonics testing.
摘要、重點與章節標題由語言模型整理，細節（誰說的、數字、先後）可能有誤；要引用請以原始內容為準。
重點
- 闡述材料分析技術對半導體先進製程高良率的關鍵作用。
- 介紹從晶圓製造到矽光子封裝的完整檢測技術與挑戰。
- 分享閎康科技全球實驗室佈局與客戶機密保護機制。
章節
依話題轉折切分，標題由 AI 產生
提到的工具與公司
- TEM
- TDR
- 3D X-ray
- CoWoS
- EIC
適合誰看
半導體產業從業人員、材料分析技術研究者或對先進製程有興趣的投資人。
摘要依據
- 依據
- 人工字幕
為什麼排在這裡
- 人氣
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